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真理光學(xué)儀器有限公司專注于高端顆粒表征儀器的研發(fā)和制造，產(chǎn)品涵蓋激光（衍射法）粒度分析儀、動態(tài)光散射納米粒度及Zeta電位分析儀以及顆粒圖像分析儀，既有實(shí)驗(yàn)室儀器，又有在線檢測系統(tǒng)。真理光學(xué)秉持“科學(xué)態(tài)度，工匠精神”，為用戶提供世界先進(jìn)的高端產(chǎn)品和服務(wù)。
真理光學(xué)匯集了以張福根博士為代表的全國顆粒表征領(lǐng)域的頂尖人才。張福根博士現(xiàn)任公司董事長兼首席科學(xué)家，還擔(dān)任全國顆粒表征及分檢與篩網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會副主任委員、中國顆粒學(xué)會常務(wù)理事、天津大學(xué)兼職教授，曾擔(dān)任中國顆粒學(xué)會副理事長，同時(shí)也是“歐美克”字號公司的創(chuàng)始人。曾擔(dān)任英國某粒度儀器公司中國總經(jīng)理20余年的秦和義先生擔(dān)任本公司商務(wù)總經(jīng)理，中國顆粒學(xué)會青年理事潘林超博士、陳進(jìn)博士擔(dān)綱公司的研發(fā)主力。
真理光學(xué)的團(tuán)隊(duì)針對當(dāng)前市面上儀器存在的不足，展開了系統(tǒng)的理論研究和技術(shù)創(chuàng)新，發(fā)現(xiàn)了衍射光斑（愛里斑）的反常變化現(xiàn)象（ACAD），解釋了為什么不能測量3μm左右的聚苯乙烯微球，并給出了反常區(qū)（不能測量粒徑）的一般公式；研究了衍射儀器的測量上限和下限；研究了顆粒折射率偏差對測量結(jié)果的影響，發(fā)明了兩種根據(jù)散射光分布估算顆粒折射率的方法；提出了斜置梯形窗口技術(shù)方案（專利），解決了前向超大角測量盲區(qū)的問題，使衍射儀器的亞微米顆粒測量水平顯著提高；提出了統(tǒng)一的反演算法（專有技術(shù)），消除了不同計(jì)算模式給出不同結(jié)果的尷尬；設(shè)計(jì)出了高達(dá)20KHz的超高速并行數(shù)據(jù)采樣電路，使干法測量的精度不亞于濕法測量，對高速噴霧場的測量（時(shí)間）分辨率也更高。
在納米粒度及Zeta電位分析儀方面，真理光學(xué)提出了比相位分析法（PALS）更先進(jìn)的余弦擬合相位分析法（CF-PALS），用光纖分束取代了傳統(tǒng)的平板分束鏡分束，用光纖內(nèi)光干涉取代了自由空間干涉，使Zeta電位的測量重復(fù)性大幅度提高。
